產(chǎn)品性能測試：

這邊啟用了一套新的測試標(biāo)準(zhǔn)用于橫向?qū)Ρ?。測試環(huán)境為SSD經(jīng)過全盤擦寫和重新分區(qū)，消除新盤的雞血狀態(tài)。

連續(xù)讀寫性能選取HD TUNE的大文件讀寫測試，文件大小為50GB。

4K隨機(jī)性能采用IOMETER混合讀寫，分別進(jìn)行QD1的淺隊列和QD32的深隊列測試。因為日常使用中不會存在純粹的讀寫行為，會在讀寫測試中反向混入25%的負(fù)載（例如讀取測試中75%讀取，25%寫入）。

現(xiàn)在部分SSD會通過玩命調(diào)教固件來提升4K的隨機(jī)數(shù)值，所以這邊引入4K離散值統(tǒng)計來讓那些表面SSD露出原型。公式中會包含對不同SSD IOPS平均值的補(bǔ)償，不會出現(xiàn)性能低的SSD，離散會較低的BUG。

IO延遲的部分則會采用AS SSD 10G文件測試，連續(xù)三次讀寫延遲的數(shù)據(jù)取平均值。

以下為橫向統(tǒng)計的圖表，相對于其他的SATA SSD來說，西數(shù)藍(lán)盤的性能不算特別好，與無緩存的技嘉240G相當(dāng)，大致就是群聯(lián)無緩存方案SSD中偏好一些的水準(zhǔn)。

下圖是離散部分的測試，可以看到在QD1淺隊列下讀取離散度尚可，但是寫入就很不好看了。而在QD32深隊列下，平均讀數(shù)雖然不低，但是藍(lán)盤的讀寫離散都顯得很尷尬。看起來是為了優(yōu)化跑分顯得用力過猛，建議西數(shù)應(yīng)為藍(lán)盤提供固件更新，相信可以改善SSD的性能。

常規(guī)產(chǎn)品性能測試大致會分為三段。

開箱性能測試，這個環(huán)節(jié)可以測試出SSD在最好狀態(tài)下大致可以達(dá)到什么性能。

壓力測試，這個環(huán)節(jié)通過長時間滿載寫入，用于測試SSD在極端壓力下性能會到什么程度。

日常狀態(tài)測試，在壓力測試之后，會通過一小時待機(jī)和重新分區(qū)讓SSD重新恢復(fù)，來體現(xiàn)日常使用中的性能表現(xiàn)。

這里首先抓最有看頭的SSD壓力測試。在新盤狀態(tài)下HD TUNE的讀寫曲線大致在385MB/213MB的程度。而藍(lán)盤同樣有設(shè)置SLC緩存， SLC緩存中性能可以達(dá)到355MB左右，大小約為8G。讀寫性能都比較一般。